梅特勒天平
大称量范围：210 g 可读性：0.0001 g 线性：± 0.0003 g 重复性：0.0001 g 稳定时间（典型）：4 s 去皮范围：0...210 g 外部砝码校准：200 g
CPA分析天平
新一代得到证实的赛多利斯能力系列实验室天平，赛多利斯 CP 系列 的可靠性在日常实验室操作过程中赢得了用户，再一次设定了在科技，质量和功能领域的标准。
陶瓷坯比重测量仪
孔隙率测量是指产品开孔所占体积的百分数，可以从产品浸渍后质量的增加情况而计算出来。本产品由Quarrz『科思』研究生产，采用高精度称重传感器结合软件计算功能，自动读取孔隙率，改变传统人工计算的方式，节省时间、提高效率；并且同时具有密度值测定功能。
